인하대, 반도체 장비 인재 양성의 요람으로…'과기정통부 장관상' 2년 연속 석권

최예나 교육생, '국제 연구산업 컨벤션 2026'서 1위…최우수상 장관상 수확
FIB·초박절편기 연계한 '하이브리드 시편 제안'…공정 시간·비용 대폭 절감
인천 지역 유일 전문교육기관 인하대 표준분석연구원…평균 취업률 80% 달성

인하대 표준분석연구원 연구장비 분야 전문인력 양성과정에 참여 중인 최예나 교육생(사진 왼쪽)이 과학기술정보통신부 장관상을 수상하고 기념사진을 촬영하고 있다./사진=인하대 홍보팀 제공

차세대 반도체 공정이 초미세화·고집적화됨에 따라 불량 원인을 정밀하게 분석하는 '연구장비 엔지니어'의 중요성이 커지는 가운데, 지역 거점 대학의 전문 인력 양성 프로그램이 잇따라 국가적 성과를 내며 주목받고 있다.

인하대학교(총장 최기영)는 표준분석연구원이 운영 중인 '연구장비 분야 전문인력 양성과정'의 최예나 교육생이 과학기술정보통신부 장관상을 받았다고 4일 밝혔다. 이번 수상으로 인하대는 지난해에 이어 2년 연속 해당 부문 최고상인 장관상 수상자를 배출하는 대기록을 썼다.

최예나 교육생은 과학기술정보통신부가 주최하고 한국연구산업협회, 과학기술사업화진흥원, 한국기초과학지원연구원(KBSI) 등이 공동 주관한 '국제 연구산업 컨벤션 2026' 성과발표대회에서 전국 대표 교육생들을 제치고 최종 1위(최우수상)에 올랐다.

발표 과제는 '반도체 단면 분석 효율 향상을 위한 하이브리드 시편 준비 워크플로우(Hybrid Specimen Preparation Workflow) 제안'이다. 반도체 소자 내부의 미세 결함을 관찰하기 위해서는 관찰 대상 샘플인 '시편'을 정밀하게 가공해야 하는데, 기존에는 고가의 집속이온빔(FIB) 장비에 대한 의존도가 높아 시편 제작에 상당한 시간과 비용이 소요되는 한계가 있었다.

최 교육생은 FIB 장비 전 단계에 시료를 극미세 두께로 자르는 '초박절편기'와 시료 표면을 미세하게 깎아내는 '딤플러' 등 복수의 연구장비를 계단식으로 연계하는 정밀 절차를 고안했다. 이를 통해 고가의 갈륨(Ga) 이온 소스 소모량을 대폭 줄이는 동시에 전체 작업 시간을 획기적으로 단축하는 분석 결과를 제시해 심사위원단의 호평을 받았다.

연구장비 엔지니어는 바이오·반도체·신소재 등 첨단 R&D 현장에서 고성능 분석 장비를 운용·관리하는 핵심 전문 인력이다. 그러나 국내 R&D 현장에서는 정밀 분석 장비의 고도화 속도에 비해 이를 전담할 실무형 테크니션 인력이 만성적으로 부족하다는 지적이 이어져 왔다.

과학기술정보통신부와 한국기초과학지원연구원은 이러한 인력 수급 불균형을 해소하기 위해 전국 7개 권역별 전문 교육기관을 지정해 맞춤형 실습 위주 프로그램을 운영하고 있다. 인천 및 경기 서부권에서는 인하대 표준분석연구원이 유일한 지정 기관으로서 지역 내 예비 엔지니어들을 육성하고 있다.

인하대 표준분석연구원의 교육 과정은 수료 후 현장에 즉시 투입될 수 있도록 이론과 첨단 장비 실습 비율을 대등하게 구성해 운영 중이며, 수료생들의 평균 취업률이 80%에 육박하는 등 우수한 취업 연계 성과를 보이고 있다.

이번 교육과정 과제책임자인 김용선 인하대 신소재공학과 교수는 "2년 연속 과기정통부 장관상을 수상한 것은 교육생들이 강의실에서 배운 이론과 실습 역량을 반도체 현장의 실제적 문제 해결에 성공적으로 적용한 결과"라며 "앞으로도 고도화되는 첨단 산업계의 눈높이에 맞춰 현장 맞춤형 장비 실무 교육과 취업 역량 강화 프로그램을 한층 넓혀가겠다"고 말했다. 인천=주관철 기자