인하대 반도체특성화대학사업단, 제26회 한국테스트학술대회 참가

학부생·대학원생 등 33명 참가
삼성전자 후원 최우수논문상 수상

제26회 한국테스트학술대회에서 최우수논문상을 수상한 정성빈 전기전자공학부 학생과 행사에 참여한 인하대 반도체특성화대학사업단 소속 학생들이 기념사진을 촬영하고 있다./제공=인하대

인하대학교 반도체특성화대학사업단은 최근 '제26회 한국테스트학술대회'에 이영우 부단장을 비롯해 학부생·대학원생 33명이 참가했다고 25일 밝혔다.

이번 행사는 한국반도체테스트학회가 주관하고 삼성전자, SK하이닉스 등 37개 기업이 후원하는 국내 유일의 반도체 테스트 전문 학술대회다. 800명 이상의 산·학·연 관계자가 참석해 성황리에 진행됐다.

학술대회에서 인하대 반도체특성화대학사업단 소속 정성빈 전기전자공학부 학생(지도교수 이영우)이 삼성전자 후원 최우수논문상을 받았다. 최우수논문상은 전체 86편의 발표 논문 중 단 3편에만 수여됐다는 점에서 의미가 크다.

정성빈 학생은 반도체 회로 테스트에 사용되는 서브 테스트 벡터에 우선순위를 부여하고, 규칙적인 패턴의 테스트 신호를 간단하게 만들 수 있는 LFSR 회로의 신호를 중첩 활용함으로써 오류탐지율을 극대화하는 방법을 제안했다.



이 기술은 반도체 칩이 스스로 회로의 이상 여부를 진단하는 내장형 자가 테스트(LBIST) 구조에 적용 가능한 방식으로, 반도체 테스트의 효율성과 신뢰성 향상에 기여할 수 있다는 점에서 높은 평가를 받았다.

이번 학술대회에서 이영우 부단장은 프로그램 공동위원장을 맡아 행사 운영에 적극 기여하고, 인하대는 후원기관으로 참여해 산학 연계 기반 확대와 교류 활성화에 힘을 보태기도 했다.

인하대 반도체특성화대학사업단은 앞으로도 국내외 다양한 학술대회에 참가해 학생들의 연구경쟁력을 높이고, 진로탐색 기회를 확대해 나갈 예정이다. 인천=주관철 기자 orca2424002@