[첨부2] KRISS 이효창 선임연구원이 플라즈마 측정을 하고 있다 |
한국표준연구원(KRISS, 원장 박상열) 연구진이 50년 동안 학계에서 풀지 못했던 플라즈마의 특정 현상에 대한 문제를 해결했다.
KRISS 반도체측정장비팀 이효창 선임연구원은 플라즈마 히스테리시스의 원인을 밝혀내고 제어하는 데 성공했다.
반도체나 디스플레이 공정에서 품질을 저하시키는 고질적 문제가 해결됨에 따라 생산에 가속도가 붙을 것으로 기대된다.
완벽에 가까워 보이는 플라즈마도 예상치 못한 현상이 있었다. 소자 공정은 때마다 요구하는 플라즈마의 조건이 다르고 이 과정에서 유도결합 플라즈마 장비의 전력 외부 변수를 조절해야 한다. 문제는 전력을 조절해도 플라즈마의 상태가 원하는 조건으로 바뀌지 못한 채 과거에 의존하는 히스테리시스가 발생한다는 것이다.
플라즈마 히스테리시스가 발생하면 소자 성능 및 수율에 치명적인 악영향을 미치지만, 지금까지는 이에 대한 원인조차 알 수 없었다. 이효창 선임연구원은 정밀 측정법을 이용, 히스테리시스의 원인이 플라즈마 내 전자에너지 분포에 의한 차이라는 사실을 최초로 입증했다.
이번 결과는 수 십 년 간 축적된 KRISS의 정밀측정기반 연구를 바탕으로 플라즈마 히스테리시스에 대한 이론을 정립한 다음, 이론에 대한 모델링 및 실험을 통해 입증된 성과다.
연구원은 한발 더 나아가 특정 비활성 기체를 주입하거나 생산장비의 외부 조건을 변경시키는 방법을 고안, 최적화된 공정에서 안정적으로 플라즈마를 사용할 수 있는 독자적인 제어기술을 개발했다.
이효창 선임연구원은 “우리나라는 반도체와 디스플레이 강국이지만, 수 십 억원이 넘는 고부가가치의 첨단장비는 전량 수입에 의존하고 있다. 국산화에 이바지할 수 있는 차세대 공정 장비 핵심기술을 통해 소자기술에만 집중된 국내 반도체 산업의 불균형을 해소하겠다”고 말했다.
이해미 기자 ham7239@
중도일보(www.joongdo.co.kr), 무단전재 및 수집, 재배포 금지