한국전자통신연구원(ETRI)은 MIT창의연구센터(센터장 김현탁 박사)가 2005년 규명한 '모트 금속-절연체 전이(MIT)' 현상을 이용해 전자개폐기용 MIT 소자를 개발하고, 전자개폐기 및 차단기에 적용해 산업화한다고 9일 밝혔다.
MIT 현상은 절연체가 전기가 통하는 금속체로 바뀌는 현상으로, 1949년 영국 케임브리지대 모트 교수가 제안했으며, 김 박사가 지난 2005년 세계 최초로 실험을 통해 규명했다.
김 박사는 규명 성공 이후 이 현상을 전자개폐기 등에 적용해 산업화하는 연구를 진행했다.
전자개폐기는 과전류가 흐를 때 전기를 차단하는 것으로, 주전원의 신호를 끊거나 이어주는 전자석과 온ㆍ오프 스위치인 계전기로 구성된다. 과전류가 흘러 도선 온도가 올라가면 팽창률이 다른 금속 2개로 이뤄진 바이메탈 금속판이 달아올라 굴절되면서 기계식 접점을 끊어 전자석을 제어하는 이 방식은 90년 이상 인류가 사용해왔다.
하지만 김 박사는 도선 온도가 올라가면 급격한 저항 변화를 감지해 임계온도인 67~85℃가 되면 전자적으로 과전류를 차단하는 소자를 개발했다. 이 소자는 전자개폐기에서 계전기 부분을 대체할 수 있는 데다 교류전압 1kv 이하 저압 배선차단기, 노전차단기 등에서 과전류를 차단할 수 있다는 게 김 박사의 설명이다.
큰 부피를 차지하는 계전기 없이 과전류를 차단할 수 있어 부피를 크게 줄일 수 있다.
최두선 기자
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